Event Log-based Weaknesses Detection in Business Processes

Schuh, G.; Guetzlaff, A.; Schmitz, Seth; Schopen, Marco (Corresponding author); Broehl, Florian

IEEE (2021)
Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband

In: 2021 IEEE International Conference on Industrial Engineering and Engineering Management (IEEM)
Seite(n)/Artikel-Nr.: 734-738

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