Prototype for dual digital traceability of metrology data using X.509 and IOTA
Peterek, Martin Joachim (Corresponding author); Montavon, Benjamin Leendert
Paris : CIRP (2020)
Fachzeitschriftenartikel
In: CIRP annals, manufacturing technology
Band: 69
Heft: 1
Seite(n)/Artikel-Nr.: 449-452
Identifikationsnummern
- DOI: 10.1016/j.cirp.2020.04.104
- RWTH PUBLICATIONS: RWTH-2020-12251